PIA1050 Sonda z izolacją optyczną 500MHz

Przegląd produktu

Optycznie izolowana sonda, 500 MHz, długość kabla 2 m, zawiera końcówkę sondy 50x i 2000x.

  Karta katalogowa

Sonda optyczna izolowana światłowodowo serii PIA1000 oferuje wyjątkową wydajność i bezpieczeństwo pomiarów, dzięki doskonałej zdolności do tłumienia sygnałów wspólnych (CMRR) oraz wysokiemu napięciu izolacji. Osiąga pełną skalę wyjściową w zakresie napięcia w trybie różnicowym od ±0,01 V do ±2500 V z różnymi końcówkami tłumiącymi. PIA1000 jest zasilana za pomocą lasera, co stanowi idealne rozwiązanie dla izolowanego zasilania. Ponadto, jest kompatybilna z automatycznie rozpoznawaną interfejsem oscyloskopów RIGOL (np. MSO8000, DHO4000), co upraszcza obsługę i poprawia doświadczenia użytkownika dzięki natychmiastowemu testowi.

Wyposażenie standardowe:

• Odpowiednie końcówki tłumiące:
  • (TIP-MMCX-50X-05): 500 MHz, tłumienie 50x
  • (TIP-MCX-2000X-05): 500 MHz, tłumienie 2000x
• 5x adapter MCX żeński (2,54 mm)
• 5x adapter MCX żeński (5,08 mm),
• 1x kabel MMCX
• 1x kabel MCX
• statyw
• Torba transportowa

*Opcjonalne wyposażenie:

końcówki sondy: 20x, 50x, 1000x, 2000x, 5000x

Kluczowe cechy

• Wysoka szerokość pasma:, aby spełnić wymagania większości testów systemów wysokiej częstotliwości:
• PIA1020: 200 MHz;
• PIA1050: 500 MHz
• PIA1100: 1 GHz
• Napięcie wspólne do 85 kVpk
• Napięcia w trybie różnicowym od ±0,01 V do ±2500 V z różnymi końcówkami tłumiącymi
• Wysokie tłumienie sygnałów wspólnych (CMRR), do 108 dB przy 1 GHz
• Szybka odpowiedź, natychmiastowy test po włączeniu, bez czasu nagrzewania, dokładność 1% przy wzmocnieniu DC

Zastosowanie

• Ocena urządzeń zasilających, pomiary prądu równoległego, rozwiązywanie problemów z EMI i ESD
• Projektowanie napędów silników, projektowanie konwerterów mocy, projektowanie balastów elektronicznych
• Projektowanie i analiza urządzeń półmostkowych GaN, SiC, IGBT (pół/pełny mostek)
• Testowanie falowników, UPS-ów oraz zasilaczy impulsowych
• Testy izolacji bezpieczeństwa przy wysokim napięciu, aplikacje testów o wysokiej szerokości pasma
• Szerokie aplikacje testów przy zmiennym napięciu i pasmach
• Pomiar izolowanych (dryfujących) sygnałów